J. Plšek: Elektronová spektroskopie nanostruktur

Anotace přednášky:

 

Metody elektronové spektroskopie jsou pro svoji universálnost a produktivitu velmi často užívány ke studiu chemického složení a elektronové struktury nanostrukturních materiálů. Základem těchto metod je měření distribuce energií elektronů, které jsou emitovány ze vzorku v důsledku jeho interakce se zářením. Nejrozšířenější z elektronových spektroskopií je metoda XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy). Tloušťka vrstvy analyzované touto metodou je dána únikovou hloubkou emitovaných elektronů a činí v závislosti na chemickém složení studovaného materiálu 1-5 nm. Dosahované laterární rozlišení je několik um. Metoda poskytuje informace o prvcích, přítomných ve zkoumané oblasti vzorku, jejich chemických stavech a jejich koncentraci. Pomocí úhlově rozlišené fotoemise lze určit hloubkový koncentrační profil prvků a morfologii přítomných povrchových nanostruktur. Možnosti elektronové spektroskopie budou demonstrovány na vybraných příkladech nanostrukturních systémů, zahrnujících samouspořádané vrstvy, uhlíkaté nanostruktury, modelové katalyzátory a biomolekuly imobilizované na površích.

 

 

Přístroj ESCA 310 od švédské společnosti Gammadata Scienta

na pracovišti fotoelektronové spektroskopie oddělení chemické fyziky

 Dr. Jana Plška v průběhu jeho přednášky zachycují následující snímky:

• Plsek_lecture_presentation_LS2008.pdf (1.06MB)

• Sbornik_Plsek_prednaska_LS2008.pdf (0.21MB)

[Zpět]