Anotace přednášky:
Mikroskopie rastrovací sondou - mikroskopie atomárních sil (AFM), tunelová mikroskopie (STM) a metody odvozené umožňují zkoumání povrchu v rozsahu zvětšení, jehož horní hranice odpovídá molekulárnímu resp. atomárnímu rozlišení. Informace, které lze tímto způsobem získat zahrnují jak topografická data (plné 3D zobrazení povrchu), tak i některé materiálové parametry (tvrdost, elasticita, vazebné interakce, elektronová hustota).
Přesto však plnohodnotná chemická analýza povrchu, která by nepostrádala žádnou z hlavních výhod technik rastrovací sondou – tj. vysoké povrchové rozlišení a možnost pracovat in situ - dosud chyběla. Umožní nové metody využívající mikroskopie rastrovací sondou – silová spektroskopie AFM, optická mikroskopie a spektroskopie blízkého pole (SNOM) a hrotem zesílená Ramanova a fluorescenční mikroskopie a spektroskopie (TERS-TEFS) tuto mezeru zaplnit?
[Zpt]
AKTUALITY
Pedagogové, kteří koncem roku neváhali a objednali své programy, jsou již v našem harm19.2.2024 - Program "Věda podle vzoru žena" měl své navštěvnice i návštěvníky (fotogalerie).
Již podruhé jsme uspořádali program komorního Dne otevřených dveří v rámci Mezinár4.1.2024 - Startuje 5 stáží v projektu Otevřená věda
Projekt Otevřená věda je tu s námi již od roku 2005. Našimi laboratořemi tak mělo m
Hlavní strana | O projektu | Aktuality | Chemie je krásná | Archiv akcí | Otevřená věda | Stáže v laboratořích | Seminář studentů | Virtuální exkurse | Programy pro SŠ | Programy pro ZŠ | Pro pedagogy | Letní školy | Galerie 4P | Týden vědy | Toulky historií | Kontakt | Projektový tým
